超声探伤仪校验规程

1. 目的：确保UT检测的质量活动所使用的超声探伤仪性能的符合性和有效性。

2. 范围：本校验属于仪器使用性能年度例行校验，适用于A型脉冲反射式超声探伤仪的校准和检定，有效期为一年。

3. 引用标准

3.1《A型脉冲反射式超声探伤仪通用技术条件》（JB/T10061－1999）

3.2《无损检测名词术语》（JB3111－82）

3.3《压力容器无损检测》（JB4730－94）

3.4《超声探伤用探头性能测试方法》（JB/T10062－1999）

3.5《超声探伤用1号标准试块技术条件》（JB/T10063－1999）

3.6《A型脉冲反射式超声波系统工作性能测试方法》（JB/T9214－1999）

4. 职责

4.1应由中心分管副总师负责领导，并负责对校验报告的签发。

4.2由中心UTⅢ级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。

4.3校验人员应由UTⅢ级人员提出，并报中心主任批准。校验人员应熟悉A型脉冲反射式超声探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。

5. 校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的）

5.1各种不同频率的常用直探头和斜探头（不须检定）

5.2　CSK－IA标准试块。

5.3不同规格的对比试块（均为炭钢锻制件）

5.3.1　JB4730－94规定的阶梯试块（DB－D₁试块）

5.3.2　Z20－1（ ）

Z20－2（ ）　　

Z20－4（ ）

5.4探头压块：保持探头在试块上的固定压力、重量为1kg

6. 校验

6.1垂直线性误差测试：

6.1.1测试设备

ａ.各种频率的常用直探头

ｂ.对比试块：Z20－2或Z20－4

ｃ.探头压块

6.1.2测试步骤

ａ.连接探头与仪器“发”位置，并用探头压块将探头固定在Z20－2试块上并对准Φ2孔，调节探伤仪使示波屏上显示的孔的反射波幅度为垂直刻度的100%（满刻度），且衰减器至少有30d_B余量；

ｂ.调节衰减器，依次记下每衰减2d_B时孔波幅度的百分数，直至衰减到26d_B，然后将孔波幅度实测值与表中的理论值相比较，取最大正偏差d₍₊₎与最大负偏差d_(-)之绝对值的和为垂直线性误差，如△d=| d₍₊₎|+|d_(-)| ；

ｃ.将底波幅度调为垂直刻度的100%，重复b调节衰减器方法，重复测试；

ｄ.在工作频率范围内，改用不同频率的探头，重复b、c方法进行测试。

6.2动态范围的测试

6.2.1测试设备：同测垂直线性设备

6.2.1测试步骤

ａ.仪器调节方法同垂直线性调节方法；

ｂ.调节衰减器，读取孔波幅度自垂直刻度100%下降至刚能辨认之最小值时，衰减器的调节量，定为探伤仪在该探头所给定的工作频率下的动态范围；

ｃ.按6.1.2c、d项方法，测试不同回波、不同频率时的动态范围。

6.3水平线性误差的测试

6.3.1测试设备

ａ.不同规格的对比试块：DB－D₁、Z20－2等；

ｂ.5MH_Z或其它频率的常用直探头；

ｃ.探头压块。

6.3.2测试步骤

ａ.将探头与仪器“发”连接，并根据被测探伤仪扫描范围档级的要求将探头用探头压块固定于适当厚度的试块上，调节探伤仪，使显示多次无干扰底波；

ｂ.无“延迟扫描”功能的探伤仪，应分别将底波调到相同幅度（如垂直刻度的80%）的条件下，使第一次底波B₁的前沿对准水平刻度“2”，第五次底波B₅的前沿对准水平刻度“10”；然后再依次将底波调到上述相同幅度时，分别读取第二（B₂）、第三（B₃）、第四（B₄）次底波前沿与水平刻度“4”、“6”、“8”的偏差L_n，然后取最大L_max按公式△L 100%计算误差值；式中△L为水平线性误差%；B为水平全刻度数。

ｃ.在具有“延迟扫描”功能探伤仪中，按上述ｂ测试方法，将底波B₁前沿对准水平刻度“0”，底波B₆前沿对准水平刻度“10”，然后读取B₂～B₅次底波中最大偏差值L_max并按公式△L 100%计算误差值；

ｄ.探伤仪扫描范围的每个档级至少应测试一种扫描速度下的水平线性误差。

6.4扫描范围的测试

6.4.1测试设备：同水平线性误差测定设备

6.4.2测试步骤

ａ.连接探头于仪器“发”位置，并根据被测探伤仪中扫描范围的要求，用探头压块将探头固定于适当厚度的试块上，调节探伤仪使示波屏上出现的多次底波中最后一次底波的幅度大于垂直刻度的50%，然后在水平刻度0～10的范围内读出底波的次数n，再按公式I＝nD计算扫描范围，式中I为扫描范围mm，D为试块厚度，mm；

ｂ.在探伤仪扫描范围的各档级分别测试其最大值和最小值。

6.5电噪声电平的测试

6.5.1测试步骤

ａ.将探伤仪的灵敏度和扫描范围调至最大，在避免外界干扰的条件下，读取时基线上电噪声平均幅度在垂直刻度上的百分数；

ｂ.探伤仪的工作频率如取分档形式，各档级应分别测试。

6.6信噪比的测试

6.6.1测试设备

ａ.常用直探头；

ｂ.对比试块：Z20－1（ ）；

ｃ.探头压块。

6.6.2测试步骤

ａ.使仪器抑制处于“关”的状态，用探头压块将探头固定于Z20－1试块并对准Φ1×25的孔，调节衰减器使Φ1平底孔反射波幅度为垂直刻度的80%；

ｂ.读取示波屏上Φ1平底孔反射波高为H_信和其周围的噪声杂波高H_噪，并按公式△＝20 计算，△为仪器在该探头下的信噪比。

6.7仪器检测灵敏度余量的测试

6.7.1测试设备

ａ.石英标定探头和常用直、斜探头；

ｂ.CSK－IA试块（1号试块）

ｃ.对比试块，Z20－2或Z20－4

6.7.2测试步骤

ａ.被测探伤仪的发射强度置于产品标准所规定的调节度上；

ｂ.连接石英标定探头置于仪器“发”，按6.5条方法测出仪器的电噪声电平，然后调节衰减器或增益，使电噪声电平≤10%，并记下此时衰减器的读数S₀；

ｃ.将石英标定探头置于CSK－IA试块上厚度100mm处，调节衰减器，使底波B₁幅度为垂直刻度的50%，记下此时衰减器的读数S₁，则仪器检测灵敏度余量按S_Q＝S₁－S₀公式计算，式中S_Q为石英标定探头的检测灵敏度余量，d_B；

ｄ.连接常用直探头并置于Z20－2上，或连接斜探头置于CSK－IA试块R100mm处，移动探头使Φ2孔或R100面的反射波为最大时，固定探头，调节衰减器使Φ2孔波或R100处底面波B₁为垂直刻度的50%，记录此时衰减器的读数S₂，则该探头的检测灵敏度余量为S_D＝S₂－S₀　。

6.8仪器和探头组合的始脉冲宽度测试

6.8.1测试设备

ａ.常用直探头；

ｂ.CSK－IA试块；

ｃ.对比试块：Z20－4。

6.8.2测试步骤

ａ.调节仪器的发射强度，使被测探头阻尼电阻值接近等效阻抗值（无探头波）。ｂ.将探头置于CDK－IA试块上厚度100mm处，调节仪器使第一次底波B₁前沿对准水平刻度“5”，第二次底波B₂前沿对准水平刻度“10”，并使B₂的幅度为垂直刻度的50～80%；

ｃ.将探头置于对比试块Z20－4上，移动探头使孔波为最高，调节衰减器使孔波幅度为垂直刻度的50%，再把衰减器的衰减量减小12d_B（即提高12d_B），然后读取从刻度板的零点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离即为负载始波宽度，用钢中纵波传播距离表示；

ｄ.将探头置于空气中，擦去表面耦合剂，读取从刻度的零点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离，即为空载始波宽度，用钢中纵波传播距离表示。

6.9远场分辨力的测试　

6.9.1测试设备

ａ.CSK－IA试块；

ｂ.常用直探头、斜探头；

ｃ.探头压块。

6.9.2测试步骤

⑴直探头和仪器组合的分辨力测试步骤

ａ.将探头置于CSK－IA试块并对准85、91、100梯槽处，使示波屏上同时出现85、91、100处的三个反射回波： 、 、 ；

ｂ.仪器抑制为“0”，左右移动探头，使 、 、 三个反射波尽量分开。当三个反射波谷不能明显分开时，其分辨力计算是读取A、B波峰高度a(mm)和两波间的波谷高度b(mm)，其分辨力按公式 。若A、B两波谷能明显分开时，则其分辨力 。试中a为A波前沿至B波前沿的水平刻度距离（mm），ｃ为A波前沿至后沿的水平刻度距离（mm）。

⑵斜探头和仪器组合的分辨力测试步骤

ａ.使仪器抑制为“0”，将探头置于CSK－IA试块上并对准Φ50、Φ44、Φ40三阶梯孔，使示波屏上同时出现三个反射波 、 、 ；

ｂ.调节衰减器，并平行移动探头使 、 、 三反射波等高，其波峰为h ，波谷为h ，则分辨力

注：实际测试时，用衰减器将h 衰减到h ，其衰减量△N即是分辨力F＝△Nd_B

6.10仪器绝缘电阻的测试

6.10.1测试设备

ａ.兆欧表（输出电压值按被测仪器产品标准的规定选取）

6.10.2测试步骤

ａ.将兆欧表输入线分别与仪器产品标准中规定的测试部位及机壳连接，然后测出其绝缘电阻（一般测出电源输入端对壳电阻）。

7. 校验记录及报告：

7.1校验记录

7.1.1校验人员应按记录表式内容对测试数据认真记录，复校人员应核对测试步骤、方法及所有测试信息数据，并对不符合项进行复校

7.1.2校验人员应依据验收标准或产品标准规定指标逐项对测试数据进行评定，做出评价结论。

7.1.3 UTⅢ级人员应对校验结论不符合项进行复校监督，并对复校评价结论意见进行确认。

7.2校验报告

7.2.1校验报告由校验人员编制和填写，并对报告内容的准确性、客观性负责。

7.2.2报告应由负责该项工作的UTⅢ级人员审核，并对报告结论正确性负责。

7.2.3报告应由中心分管副总师批准（签发），并对报告的有效性负责。

8. 记录、报告表式

超声探伤仪性能例行校验报告

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超声探伤仪性能例行校验记录

编号