|
X射线探伤仪校验规程
1. 目的：确保RT检测的质量活动所使用的X射线探伤仪性能的符合性和有效性。
2. 范围：本规程适用于额定管电压小于等于300KVX射线探伤机的首次和后续校准和检定工作，有效期为一年。
3. 引用标准
3.1 JB/T7413-1994《携带式工业X射线探伤机》
3.2 JB/T7902-1995《线型像质计》
3.3 JB4730-94《压力容器无损检测》
3.4 JJG40-2001《X射线探伤机检定规程》
4. 职责
4.1应由中心分管副总师负责领导，并负责对校验报告的签发。
4.2由中心RTⅢ级人员负责组织指导校验人员实施校验，并负责校验报告的审核。
4.3校验人员应由RTⅢ级人员提出，并报中心主任批准。校验人员应熟悉X射线探伤仪的结构、工作原理和使用方法，熟悉本规程的引用标准，能正确按本规程方法进行校验工作，编制校验报告。
5. 校验用标准试块及器具（应是计量部门检定合格的）
5.1线型像质计：校准检定用线型像质计应符合JB/T7902-1995。
5.2标淮试块：材质应为A3钢，规格为200mm×100mm，表面粗糙度Ra≤6.3，试块厚度应满足表1至表2的相应要求，其厚度的允差为±4％。
5.3支架系统定位误差应小于1mm。
5.4 黑度计或测微光度计测量误差应小于±4％。
5.5 X射线防护水平剂量率计：校准检定用剂量率计的性能应符合二级要求。
5.6 X光胶片和观片灯：结合照像质量及曝光时间等因素对其类型进行选择。
5.7其他检定设备见表3
表1 携带式定向X射线探伤机
|
额定管电压／kV |
额定管电流／mA |
对A3钢穿透力／mm |
|
100
150
200
220
250
300 |
5
5
5
5
5
5 |
≥7
≥19
≥29
≥33
≥39
≥50 |
表2 携带式周向X射线探伤机
|
额定管电压／kV |
额定管电流／mA |
对A3钢穿透力／mm |
|
150
200
250
300 |
5
5
5
5 |
≥12 ／锥靶管
≥27／24平靶管／锥靶管
≥37／34平靶管／锥靶管
≥47／40平靶管／锥靶管 |
表3
|
名称和测量范围 |
最小分度值 |
|
温度计0～50℃
气压表86～106
秒表
钢尺0～1000 |
0.5℃
0.1kPa
0.01s
1.0mm |
5.8环境条件：检定时的环境应满足剂量计的工作环境条件温度为（20±5）℃，相对湿度小于75％。
6. 校准检定
6.1校准检定项目和检定方法
6.1.1 检定项目
6.1.1.1首次校准检定：可引起性能显著变化的修理后的X射线探伤机，如：更换X光管高压变压器等应进行首次检定。首次检定项目有：空气比释动能率、穿透力、重复性、辐射角、计时器误差、透照灵敏度，漏射线空气比释动能率。首次校准检定应由修理单位进行，使用单位现场确认验收。
6.1.1.2后续校准检定：正常年度校准检定，检定项目有：穿透力，重复性，辐射角，计时器误差、透照灵敏度、整机绝缘电阻的测定。
6.1.2 检定方法
6.1.2.1穿透力校准
a将X光胶片裁成100mm×225mm，至焦点600mm，胶片长边方向与X射线管轴线方向平行。定向机胶片中心偏离辐射中心（146±5）mm处拍片；周向机中心沿周向辐射场中心线绕管轴线每90°拍一张胶片，穿透力取其中最低值。
b胶片前方紧贴放置表1～表2要求的相应的标准试块，增感屏用0.03mmPb，试块四周按表4规定的铅当量遮挡。
表4
|
额定管电压／kV |
铅当量／mm Pb |
|
50
100
150
200
250
300 |
0.4
1.4
2.1
3.6
6.3
9.3 |
c采用额定管电压、额定管电流进行曝光，携带式X射线探伤机曝光5min。
d将曝光后的胶片进行暗室处理，显影定影液的配制及冲洗时间和温度等，按X光胶片规定的要求进行。
E干燥后的胶片用黑度计或测微光度计测量黑度值Di。在胶片中心区域至少测5点，取其算术平均值D。胶片本底黑度应不大于0.3，D应不小于1.5。
6.1.2.2重复性校准
测量要求同7.1.2.1条，每开机1次测量1次，得到1个数据，连续开机次数不少于5次，并用公式V= 计算单次测量的相对标准偏差，v表示其重复性。
式中：Mi为第I次升机的测量值；M′为n次开机测量的平均值。
6.1.2.3辐射角的校准
a定向X射线探伤机辐射角的校准
将检定的X射线探伤机放置在支承架上，窗口对准地面，地面应用厚度为6mm的铅板屏蔽，使X光管轴线（射线机长度方向轴线和宽度方向）与地面平行，焦点距铅板表面600mm；在铅板上找出窗口正投影的中心点，并通过此点划出与射线机长度方向和宽度方向的平行线，两平行线交于窗口在铅板上正投影的中心点；训练X射线机至额定值，将装好胶片的暗袋（胶片为360mm×80mm、增感屏前后屏均为0.5mm）放置在铅板划好的两条线上，每条线上各放三个暗袋，两线交点处的暗袋上应摆放中心标记，暗袋搭接处应摆放搭接标记。调整X射线机管电压至额定值的50％，管电流为额定值进行透照，将已透照好的胶片进行暗室处理并干燥处理在观片灯上进行测量底片上中心标记至底片黑度变化区黑度较大的边界处的距离Sj（径向）和Sh（横向）并按θ＝tg-1 分别计算X射线机的径向和横向辐射角。式中θ角为X射线机的辐射角。
B周向X射线探伤机的径向辐射角校准检定
将射线机立放于地面，测量机壳红色带中心距地面高度，并以此高度在距焦点600mm的0°、90°、180°、270°位置各放置一个装好胶片的暗袋，胶片长度方向应平行于射线机长轴方向，其他程序及方法同定向机校准检定。
6.1.2.4计时器误差校准检定
将机带计时器分别调到0.5，1.0，5min等位置，开机的同时启动秒表，机带计时器停止同时停止秒表，每个位置上测量3次，计算其算术平均值与设定值之差。取其与设定值之比最大者为计时器误差
6.1.2.5透照灵敏度校准检定
a测量要求同穿透力校准，采用JB/T7902-1995《线型像质计》中的R′10系列，用2个规格相同、材质标记为FE的线型像质计（见附录A），贴附在按表1～表2要求的相应试块边缘区域X射线机一侧，像质计的细线朝外。按要求曝光并处理胶片。
b在背景光亮度不低于215cd/m2的观片灯下用肉眼观察底片找出像质计影像中可以分辩的最细的直径按公式S= 100%。式中：S-以百分数表示的透照灵敏度，％；δ-透照试块的厚度，mm；d-底片上可辩认的最细线码直径，mm。
6.1.2.6整机绝缘电阻的测试
a测试设备：兆欧表（输出电压值按被测仪器产品标准的规定选取）
b测试步骤：.将兆欧表输入线分别与仪器产品标准中规定的测试部位及机壳连接，然后测出其绝缘电阻（一般测出电源输入端对壳电阻）。
7. 校验记录及报告：
7.1校验记录
7.1.1校验人员应按记录表式内容对测试数据认真记录，复校人员应核对测试步骤、方法及所有测试信息数据，并对不符合项进行复校
7.1.2校验人员应依据验收标准或产品标准规定指标逐项对测试数据进行评定，做出评价结论。
7.1.3 RTⅢ级人员应对校验结论不符合项进行复校监督，并对复校评价结论意见进行确认。
7.2校验报告
7.2.1校验报告由校验人员编制和填写，并对报告内容的准确性、客观性负责。
7.2.2报告应由负责该项工作的RTⅢ级人员审核，并对报告结论正确性负责。
7.2.3报告应由中心分管副总师批准（签发），并对报告的有效性负责。
8. 记录、报告表式
9. 附录A：参阅JB4730-94《压力容器无损检测》表5-3象质计的选用。
10.
X射线探伤机性能年度校验报告
编号
|
仪器型号 |
|
编号 |
|
下次校验日期 |
|
|
测试用设备 |
|
验收标准 |
|
|
校验项目 |
实测 |
标准规定 |
结论 |
|
穿透力 |
|
|
|
|
重复性 |
|
|
|
|
辐射角 |
|
|
|
|
计时器误差 |
|
|
|
|
透照灵敏度 |
|
|
|
|
绝缘电阻 |
|
|
|
|
校验评定 |
|
|
批准人： 审核人： 编制人：
年 月 日 年 月 日 年 月 日
|
|
|
|
|
|
|
|
X射线探伤机性能年度校验记录
编号
|
仪器型号 |
|
仪器编号 |
|
|
校验项目 |
|
验收标准 |
|
|
上次校验
日期及结果 |
|
|
测试用设备 |
|
|
测试步骤方法及测试的信息
|
测试人：
测试日期： 年 月 日
|
|
校验结论 |
审核人： 复校人： 校验人：
|
|