三兴检测公司今年荣获七项发明专利授权

接国家知识产权局通知，三兴检测公司申报的《一种同时使用两种不同γ源的射线照相检测方法》发明专利于18日获得授权，专利号为201310676661.1。至此，2015年三兴检测公司共获得发明专利7项，实用新型专利5项。

《一种同时使用两种不同γ源的射线照相检测方法》发明专利公开了一种同时使用两种不同γ源的射线照相检测方法，属于射线照相检测技术领域。其步骤为：组建射线照相检测系统，所述的射线照相检测系统包括192Ir 探伤机和75Se探伤机；计算曝光时间，使用γ射线曝光计算器计算出单独使用192Irγ源对工件进行透照的曝光时间为t1，使用γ射线曝光计算器计算出单独使用75Seγ源对工件进行透照的曝光时间为t2，用公式计算同时使用192Irγ源和75Seγ源对工件进行透照所需要的曝光时间t：t =t1t2 /(t1+t2)；送源并对胶片进行曝光，按照确定的曝光时间t 对胶片进行曝光；曝光时间结束后，收源。本发明透照厚度范围大，射线底片分辨率高，检测灵敏度高，且大大提高了检测效率。